圖像粒度粒形分析儀是根據(jù)顆粒能使激光產(chǎn)生散射這一物理現(xiàn)象測試粒度分布的。由于激光具有很好的單色性和較強(qiáng)的方向性，所以在沒有阻礙的無限空間中激光將會照射到無窮遠(yuǎn)的地方，并且在傳播過程中很少有發(fā)散的現(xiàn)象。
 

　　圖像粒度粒形分析儀的基本原理：
 

　　粒度粒形分析儀是利用粒子的布朗運(yùn)動，根據(jù)光的散射原理測量粉顆粒大小的，是一種比較通用的粒度儀。其特點(diǎn)是測量的動態(tài)范圍寬、測量速度快、操作方便，尤其適合測量粒度分布范圍寬的粉體和液體霧滴。對粒度均勻的粉體，比如磨料微粉，要慎重選用。
 

　　集成了激光技術(shù)、現(xiàn)代光電技術(shù)、電子技術(shù)、精密機(jī)械和計(jì)算機(jī)技術(shù)，具有測量速度快、動態(tài)范圍大、操作簡便、重復(fù)性好等優(yōu)點(diǎn)，現(xiàn)已成為流行的粒度測試儀器。
 

　　圖像粒度粒形分析儀的功能特點(diǎn)：
 

　　1、可對高速運(yùn)動狀態(tài)下的顆粒進(jìn)行清晰的粒形和粒度分析，從不同的方向測試顆粒的形狀，保證被測試樣品的代表性。
 

　　2、高效、簡潔的模塊化設(shè)計(jì)，讓不同的分散系統(tǒng)和圖形分析系統(tǒng)自由組合，完成不同應(yīng)用領(lǐng)域的測試要求，比如對粉狀物料、懸浮液、纖維狀物料、透明晶體的粒形粒度分析。
 

　　3、可達(dá)到亞微米級的高清晰度、高精度的粒形和粒度大小同步測試。
 

　　4、高達(dá)400萬像素的CMOS成像系統(tǒng)，可以保證清晰的得到每一個(gè)顆粒的粒形信息。
 

　　5、每秒高達(dá)500幅圖片的成像速度，可以快速的獲得大量的顆粒粒度信息，并進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析。