納米顆粒粒徑檢測(cè)篩分法：篩分法測(cè)定粒徑時(shí)，按照被測(cè)試樣的粒徑大小及分布范圍，將大小不同篩孔的篩子疊放在一起進(jìn)行篩分，收集各個(gè)篩子的篩余量，稱量求得被測(cè)試樣以重量計(jì)的顆粒粒徑分布。篩分法適于粒度≥30μm的粉體。測(cè)定時(shí)取一定量的粉料通過篩子，測(cè)定篩余量(即通不過的粉料量)占總重量的百分率，篩余越多，說明粉料顆粒愈粗。不同產(chǎn)品有不同的篩余量。其中重要的參數(shù)是篩分直徑(顆粒能夠通過的最小方篩孔的寬度)和篩孔的大小，用目表示每一英寸長度上篩孔的個(gè)數(shù)。
 

　　納米顆粒粒徑檢測(cè)光阻法：當(dāng)顆粒通過光束時(shí)，部分光被擋住，引起光電檢測(cè)器信號(hào)變化，該信號(hào)脈沖的個(gè)數(shù)對(duì)應(yīng)于顆粒的個(gè)數(shù)，而脈沖的面積對(duì)應(yīng)于顆粒的大小。樣品需稀釋到極低濃度，測(cè)量結(jié)果取決于校準(zhǔn)。
 

　　納米顆粒粒徑檢測(cè)動(dòng)態(tài)光散射法：當(dāng)顆粒粒度小于光波波長時(shí)，由瑞利散射理論，散射光相對(duì)強(qiáng)度的角分布與粒子大小無關(guān)，不能夠通過對(duì)散射光強(qiáng)度的空間分布(即上述的靜態(tài)光散射法)來確定顆粒粒度，動(dòng)態(tài)光散射正好彌補(bǔ)了在這一粒度范圍其他光散射測(cè)量手段的不足，原理是當(dāng)光束通過產(chǎn)生布朗運(yùn)動(dòng)的顆粒時(shí)，會(huì)散射出一定頻移的散射光，散射光在空間某點(diǎn)形成干涉，該點(diǎn)光強(qiáng)的時(shí)間相關(guān)函數(shù)的衰減與顆粒粒度大小有一一對(duì)應(yīng)的關(guān)系。通過檢測(cè)散射光的光強(qiáng)隨時(shí)間變化，并進(jìn)行相關(guān)運(yùn)算可以得出顆粒粒度大小。盡管如此，動(dòng)態(tài)光散射獲得的是顆粒的平均粒徑，難以得出粒徑分布參數(shù)。動(dòng)態(tài)光散射法適于測(cè)定亞微米級(jí)顆粒。